干涉镜头
采用通过样品内和样品外的相干光束产生干涉的方法,把相位差(或光程差)转换为振幅(光强度)变化的物镜。分辨样品中的结构,并可测定样品中一定区域内的相位差或光程差。
  • 实时显示

  • 无损检测

  • 软件专业

  • 重复性高

  • 配件多样

  • 坚固耐磨

产品特色 /实验内容



干涉镜头-1.jpg

干涉镜头-2.png

干涉镜头-3.jpg








产品简介


干涉测量镜头可用在非接触光学压型测量设备上,通过此镜头可得到表面位图和表面测量参数等。也可用来检测表面粗糙度,测量精度非常高,在一个波长内。一束光通过分光镜,可将光直接射向样品表面和内置反光镜。从样品表面反射的光线通过再结合,就产生了干涉图案。


与Mirau镜头比起来,Michelson镜头拥有更长的工作距离,更宽的视场和更大的焦深。Mirau镜头用在需要高倍率和/或大数值孔径的场合。采用Nikon 200mm镜筒的话可将镜头直接装配到C接口相机上。




应用范围


用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。


适用型号:

MicroXAM系列、Newview7000系列、Newview8000系列,

Wyko各型号、Contour Elite系列、ContourGT系列、

Talysurf系列、SMARTWLI系列等,

几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。




型号类别

包含多型号:

2.5xNikon干涉镜头

5xNikon干涉物镜

10xNikon白光干涉镜头

20xNikon非接触干涉镜头

50xNikon相干测量物镜

100x尼康 CF IC Epi Plan 镜头




产品参数

包含多型号:


2.5xNikon干涉镜头

5xNikon干涉物镜

10xNikon白光干涉镜头

20xNikon非接触干涉镜头

50xNikon相干测量物镜

100x尼康 CF IC Epi Plan 镜头

电话:4001361036

邮箱:sales@famouset.com

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